XRF镀层测厚仪的原理是什么?

点击数：6442019-01-21 10:50:59　来源: 惠州市华高仪器设备有限公司-气相色谱仪|x射线荧光光谱仪|色谱仪|直读光谱仪|ROHS检测仪|元素分析仪|原子吸收分光光度计|气相色谱质谱联用仪|镀层测厚仪|水质分析仪

惠州市华高仪器设备镀层测厚仪

1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。
2、XRF镀层测厚仪：
俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。
功能：精密测量金属电镀层的厚度。
应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。

物质受原级X射线或其他光子源照射，受激产生次级X射线的现象。

它只包含特征X射线，没有连续X射线。分别以原级、一级、二级X射线激发，可产生一级、二级、三级X射线荧光。